Малюнак | Частка нумар | Апісанне | запас | Цана за адзінку | RFQ |
---|---|---|---|---|---|
TOP125I40/200GChip Shine / CSRF |
125MIL ICT PROBE |
981 882 У наяўнасці $0.00000 |
|||
TOP156I40/500GChip Shine / CSRF |
156MIL ICT PROBE |
883 693 У наяўнасці $0.00000 |
|||
CT3773-2Cal Test Electronics |
COMPACT PROBE BODY SHARP SS 2MM/ |
8 836 940 У наяўнасці $0.00000 |
|||
6034-8Pomona Electronics |
REPLACE ACCESS KIT INS PROBE GRY |
4 418 470 У наяўнасці $0.00000 |
|||
TOP039WN040/100G-L33.5Chip Shine / CSRF |
39MIL ICT DOUBLE DAGGER TIP |
2 945 647 У наяўнасці $0.00000 |
|||
CT3940B-2Cal Test Electronics |
EXT TIP ADAPTER 3900B UL 50MM RD |
2 209 235 У наяўнасці $0.00000 |
|||
TOP187E40/200GChip Shine / CSRF |
187MIL ICT PROBE |
1 767 388 У наяўнасці $0.00000 |
|||
TOP125I20/200GChip Shine / CSRF |
125MIL ICT PROBE |
1 472 824 У наяўнасці $0.00000 |
|||
TOP156I40/400GChip Shine / CSRF |
156MIL ICT PROBE |
1 262 420 У наяўнасці $0.00000 |
|||
CT3773-0Cal Test Electronics |
COMPACT PROBE BODY SHARP SS 2MM/ |
1 104 618 У наяўнасці $0.00000 |
|||
TOP125N18/400GChip Shine / CSRF |
125MIL ICT PROBE |
981 883 У наяўнасці $0.00000 |
|||
5246-0Pomona Electronics |
IC TEST TIP ADAPTER BLACK |
883 694 У наяўнасці $0.00000 |
|||
TOP125E25/100GChip Shine / CSRF |
125MIL ICT PROBE |
8 836 950 У наяўнасці $0.00000 |
|||
TOP125D25/300GChip Shine / CSRF |
125MIL ICT PROBE |
4 418 475 У наяўнасці $0.00000 |
|||
TOP125I25/400GChip Shine / CSRF |
125MIL ICT PROBE |
2 945 650 У наяўнасці $0.00000 |
|||
TOP187I40/400GChip Shine / CSRF |
187MIL ICT PROBE |
2 209 238 У наяўнасці $0.00000 |
|||
4988Pomona Electronics |
REPLACE PROBE TIP NEEDLE POINT |
1 767 390 У наяўнасці $0.00000 |
|||
TOP125M17/180GChip Shine / CSRF |
125MIL ICT PROBE |
1 472 825 У наяўнасці $0.00000 |
|||
TOP039W04/100G-L33.5Chip Shine / CSRF |
39MIL ICT DAGGER TIP |
1 262 422 У наяўнасці $0.00000 |
|||
CT3209-9Cal Test Electronics |
FUSED MODULAR PROBE 0.5A/660V WH |
1 104 619 У наяўнасці $0.00000 |
Copyright © 2024 ZHONG HAI SHENG TECHNOLOGY LIMITED All Rights Reserved.