SN74BCT8374ADW

Выява для даведкі, калі ласка, звяжыцеся з намі, каб атрымаць рэальную карціну

Частка вытворцы	SN74BCT8374ADW
Вытворца	Texas Instruments
Апісанне	IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Катэгорыя	інтэгральныя схемы
Сям'я	логіка - спецыяльнасць логіка
Жыццёвы цыкл:	New from this manufacturer.
Дастаўка:	DHL FedEx Ups TNT EMS
Аплата	T/T Paypal Visa MoneyGram Western Union

Даступнасць

InStock	75
Цана за адзінку	$ 11.36000

SN74BCT8374ADW Current price of is for reference only, if you want to get best price, please submit a inquiry or direct email to our sales team [email protected]

SN74BCT8374ADW Тэхнічныя характарыстыкі

Тып	Апісанне
серыял:	74BCT
пакет:	Tube
статус часткі:	Active
лагічны тып:	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
напружанне харчавання:	4.5V ~ 5.5V
колькасць біт:	8
Працоўная тэмпература:	0°C ~ 70°C
тып мантажу:	Surface Mount
пакет / чахол:	24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
пакет прылады пастаўшчыка:	24-SOIC

Shopping Guide

Shipping Rate

We ship orders once a day around 5 p.m., except Sundays. Once shipped, the estimated delivery time depends on the courier company you choose, usually 5-7 working days.